迈克尔孙干涉仪的基本工作原理基于光的干涉现象。它由光源、分光镜、反射镜和观察系统组成。以下是其工作原理的简要说明：
光源：提供相干光，通常使用激光或稳定的白光。
分光镜：将来自光源的光束分成两束，一束光直接反射到其中一个反射镜（参考光束），另一束光则反射到另一个反射镜（测量光束）。
反射镜：两束光在反射镜上反射后，再次回到分光镜处。
干涉现象：当两束光在分光镜处重新相遇时，如果它们的相位一致，会发生构造性干涉，如果相位相反，则会发生破坏性干涉。通过观察干涉条纹，可以分析光程差的变化。
观察系统：通过观察干涉条纹的变化，可以测量物体的位移、厚度、折射率等物理量。
迈克尔孙干涉仪广泛应用于精密测量领域，如光学、物理学、工程学等，能够提供非常精确的测量结果。