干涉测量术是一种利用光波（或其他类型的波）干涉现象来获取信息的技术。它基于两个或多个相干波的叠加原理，通过分析干涉图样来提取信息。干涉测量术的基本原理包括以下几个步骤：
产生相干光源：首先需要一个相干光源，如激光，以产生具有相同频率和相位的光波。
光波的分束：将相干光源分为两束或多束光，其中一束光经过待测物体或介质，另一束光作为参考光。
波的干涉：经过物体的光波与参考光波在空间中相遇并发生干涉。干涉可以是建设性的（相位差为0或整数倍的(2\pi)）或破坏性的（相位差为((2n+1)\pi)，其中(n)是整数）。
干涉图样分析：通过分析干涉图样（如条纹的分布、间距等），可以提取关于物体或介质的信息，如位移、形变、厚度、折射率变化等。
信息提取：根据干涉图样的变化，可以精确测量物体的微小变化，这对于精密工程、科学研究和医学成像等领域非常有用。
干涉测量术在多个领域都有应用，包括但不限于光学、物理学、工程学、生物学和医学。通过干涉测量术，科学家和工程师能够以极高的精度测量和分析各种物理量。